Николаева Е. А. «Построение проверяющих тестов для одиночных и кратных константных неисправностей на полюсах элементов схем, синтезированных на базеПЛИС (FPGA )-технологий по системе Free BDD-графов » // Вестник ТГУ. УВТиИ. 2009. №1 (6) C.81-98
Бухаров А. В. , Матросова А. Ю. , Кириенко И. Е. , Останин С. А. «Поиск всех тестовых наборов для неисправности логической схемы и представление их ROBDD-графом» // Вестник ТГУ. УВТиИ. 2014. №2(27) C.82-89
Вы можете добавить статью